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Kleinwachter CPM-374充電板監(jiān)測(cè)器規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)
日期：2014-11-12瀏覽：2108次
中國(guó)電子行業(yè)儀器供應(yīng)商——堅(jiān)融實(shí)業(yè)JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(上海)測(cè)量?jī)x器JETYOO INSTRUMENTS推出德國(guó)Kleinwachter CPM-374充電板衰減監(jiān)測(cè)儀Charge Plate Monitor CPM-374
CPM-374 由計(jì)時(shí)器、高壓產(chǎn)生器、靜電場(chǎng)探頭、和電極板構(gòu)成，可以測(cè)量直流電位、靜電場(chǎng)強(qiáng)和電極板上的電位衰減時(shí)間及離子平衡度。
符合IEC 61340-5-1規(guī)范測(cè)量靜電消除器散電時(shí)間和離子平衡度
符合IEC 61340-2-1規(guī)范(方式二)和SAE J1645規(guī)范用于測(cè)量材料靜電衰減期。
根據(jù)IEC 61340-2-1方式二測(cè)試平整材料的靜電衰減時(shí)間
符合SAE J1645靜電衰減測(cè)試規(guī)范。
符合IEC 61340-2-1規(guī)范測(cè)試防靜電腕帶、指套、手套和工具等物品的靜電衰減時(shí)間，可以在現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè)常用防靜電（靜電消散）物品是否合格。
Kleinwachter CPM-374靜電場(chǎng)分析儀有3個(gè)測(cè)量模式：
充電板模式(Charge Plate Mode)
電壓表模式(Voltmeter Mode)
場(chǎng)強(qiáng)儀模式(Electrostatic Field Meter Mode)
CPM-374平板離子風(fēng)機(jī)測(cè)試儀產(chǎn)品參數(shù)：
產(chǎn)品尺寸 152 x 152 x 152mm
產(chǎn)品重量 1.5kg
顯示 100 x 24mm，2行16位LCD顯示屏
測(cè)量范圍
充電板模式：+/-1000V(計(jì)時(shí)分辨率0.1 秒)
靜電壓表模式：+/-2000V(MK11)；+/-4000V(PLATE)
場(chǎng)強(qiáng)儀模式：+/-200kV/m
PC接口 RS232接口，9-pol. Sub-D Connector
內(nèi)置可充電池 7.2V，1300mAh
電池連續(xù)工作時(shí)間 4小時(shí)
電池充電時(shí)間 zui長(zhǎng)不要超過(guò)14小時(shí)
外部電源 230V/50Hz — 12VDC/750mm電源適配器/充電器
消耗電流 外部電源：600mA；電池：150mA
工作環(huán)境溫度 0-40℃
工作環(huán)境相對(duì)濕度 10-60%
CPM-374平板式靜電分析儀Kleinwachter標(biāo)準(zhǔn)配置：
CPM-374主機(jī)： 1臺(tái) MK11探頭： 1個(gè)
電源適配器/充電器： 1個(gè) PTFE絕緣測(cè)試線(xiàn)(1米長(zhǎng))：1條
接地線(xiàn)： 1條 絕緣鉗： 1個(gè)
數(shù)據(jù)線(xiàn)： 1條 儀器支撐桿： 3個(gè)
配套軟件光盤(pán)： 1個(gè) 導(dǎo)靜電手提箱： 1個(gè)
校正證書(shū)： 1份 操作說(shuō)明書(shū)： 2份
產(chǎn)品分類(lèi)
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車(chē)充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線(xiàn)協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- ADCMT愛(ài)德萬(wàn)ADVANTEST
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅外熱像儀
- 美國(guó)BK PRECISION
- 賽默飛Thermo X射線(xiàn)光譜儀
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 梅特勒METTLER
- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
- 艾卡IKA
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 哈希HACH/萬(wàn)通Metrohm
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車(chē)電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質(zhì)譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
- SHIMAZU島津
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